GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 更新时间:2008年02月19日 资源 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 积分0.00 特惠 积分0 VIP全站资料免积分下载 立即下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 1555-1997 文件类型:.rar 资源大小:213.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:8261 VIP资源 GB/T 1555-1997标准规范下载简介: GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的晶体的表面取向。 有色冶金标准 烟草标准 包装标准 海关标准 物资标准 化工标准 文化标准 通信标准 交通标准 水利标准 粮食标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 下一篇 GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 相关文章