GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 更新时间:2008年02月19日 资源 GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 积分0.00 特惠 积分0 VIP全站资料免积分下载 立即下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 1557-1989 文件类型:.rar 资源大小:131.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:8262 VIP资源 GB/T 1557-1989标准规范下载简介: GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 本标准规定了用红外吸收测定硅晶体中间隙氧含量的方法。本标准适用于室温电阻率大于0.1Ω·cm的硅晶体中氧含量的测量。 汽车标准 商业标准 地方标准 城镇建设标准 环境保护标准 林业标准 水利标准 船舶标准 稀土标准 电力标准 烟草标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 下一篇 GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 相关文章