GB／T 17738.4-2013 标准规范下载简介：
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GB／T 17738.4-2013 射频同轴电缆组件 第4部分：半硬同轴电缆组件分规范按GB/T17738.12013中第6章规定
应优选回波损耗（A，）参数，也可以规定反射系数（r）或电压驻波比（VSWR），见式（1）和式（2）
B.4插入损耗的稳定性
QLSB 0001S-2015 丽江生宝生物工程有限公司 螺旋藻片本试验的目的是测量两个或多个电缆组件之间的相位差。相位差不应超过相关详细规范
如果在一个匹配装置中含有两个以上电缆组件，则应清楚地标出基准电缆 补充：
转移阻抗应小于规定值。当在30MH2进行试验时.详细规范应在下述优选最大
8.9.2详细规范中应规定的内容
如果详细规范中没有规定，试验应在海平面进行。此外，可在详细规范中对海拔高度提出要求，其 优选值为： 海平面： 86kPa106kPa 10km： 25kPa 20km 4.4kPa
如果详细规范中没有规定，试验应在海平面进行。此外，可在详细规范中对海拔高度提出要求 选值为： 海平面： 86kPa~106kPa 10km： 25kPa 20km 4.4kPa
除以下内容外，GB/T17738.1一2013中第10章适用。
除以下内容外，GB/T17738.1一2013中第10章适用。
经本试验而不破坏电缆组件，在很大程度上与组件的尺寸、形状和配合不良产生的机械应力有关。 当适用时，应在详细规范中规定机械方面的细节
GB/T17738.12013中第11章适用
电气、机械和环境试验要求外，详细规范还应规定要进行的试验项目及相应检验水平、合格质 周期。凡有可能，应规定表1中完整的试验组（例如，Eb、Ep、Vt)，以代替单项试验。
注：1.如果制造商希望在连接器和电缆上分别进行模拟试验来代替这些试验，那么，他应向订购方证明这些试 验能使详细规范的要求在检验的最后阶段得到满足（IECQC001002修改单的12.3.4[1}"）。 2.仅规定8.5或8.7中的一种。 2 样本大小。 合格判定数。 IL 检查水平，按IEC60410：1973规定。 AQL 合格质量水平，按IEC60410：1973规定。 此周期试验应在订购方和其供应商共同确定的能力鉴定元件（CQC）上完成，
2.1推荐的鉴定试验一
推荐的鉴定试验一览表见表2
推荐的鉴定试验一览表见表2
表 2 试验一览表
）方括弧中的的数字指参考书目
123.3COCs的任务
12.3.4界定CQC的目的
的是要给出表1声明的范围和任何其他声明百 考虑特性之间相互依赖关系
CQCNo.aaa 此CQC的目的是证明制造商具有完成连接器检验的能力，如果这些连接器不是按能力批准或鉴 全批准合格证采购。 此CQC由能力批准的范围内电缆组件用的最小直角连接器组成。 CQCNo.aaa用推荐试验一览表： 周期1年
此CQC的自的是证明制造商具有完成电缆检验的能力，如果这些电缆不是按能力批准或鉴定批 准合格证采购。 此CQC由达到能力手册中声明范围内最高频率的特性测量中允许的标准长度或最大长度的电缆 组成LY/T 1379-2013 双圆锯裁边机， CQCNo.bbb用推荐试验一览表： 周期1年
此CQC的目的是证明制造商具有对会影响成品电缆组件性能的零部件完成检验的能 此CQC应是预定在电缆组件中使用的敏感的零部件： 此CQC的选择和其试验一览表应由NSI协商确定
此CQC的目的是证明制造商具有切割电缆和制备电缆端头的能力。 此CQC应是CM中声明的一段最严格的电缆（即带有绕包、泡沫或实芯介质的最小规格电缆）。 CQCNo.ddd用推荐试验一览表： 周期1年
此CQC的目的是证明制造商具有在连接器零部件（如果在CM中声明）上准备的能力（例如，分解 连接器）。 此CQC由取自于CQCNo.aaa的零部件组成， 此CQC的选择和其试验一览表应由NSI协商确定。 CQCNo.fff 此CQC的目的是证明制造商具有获得清晰和耐久标签的能力。 此CQC由在CM中规定的能力批准范围内所有技术中最小规格的标签内容组成。 CQCNo.fff用推荐试验一览表： 周期1年
此CQC的目的是证明制造商其有使用CM中声明的征何方法在电缆内导体与连接器内导体 共良好接触的能力， 此CQC由一段具有绞合内导体（若有时）的最小规格电缆，并使用CM中声明的焊接或压接 接上有关内接触件组成，在焊接情况下，CM应规定如何培训操作者
CQCNo.ggg用推荐试验一览表： 周期1年
此CQC的目的是证明制造商具有使用CM中声明的任何方法在电缆外导体与连接器外导体之间 提供良好接触的能力。 此CQC由具有CM中声明的每种外导体类型的电缆，并使用CM中声明的焊接或压接方法附接 上有关外接触件组成。在焊接情况下，CM应规定如何培训操作者。 CQCNo.hhh用推荐试验一览表： 周期1年
GB/T 38876-2020 接入网设备测试方法 10Gbit_s以太网无源光网络（10G EPON）T印H期：2011年4月16HF009A