GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法 更新时间:2009年08月27日 资源 GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法 VIP全站资料免积分下载 没有资源,无法下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 14863-1993 文件类型:.rar 资源大小:360.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:58146 VIP资源 GB/T 14863-1993标准规范下载简介: GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法 航空工业标准 有色冶金标准 外经贸标准 气象标准 民政标准 公共安全标准 海关标准 新闻出版标准 教育标准 商业标准 城镇建设标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 下一篇 GB/T 14865-1993 SMB型射频同轴连接器 相关文章