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GBT 3836.25-2019 爆炸性环境 第25部分：可燃性工艺流体与电气系统之间的工艺密封要求GB/T 3836.252019
艺密封设备的选型、安装及操作符合行业标准。 正常运行条件下，可燃性工艺流体不应释放到环境中
4.2单一工艺密封设备
单一工艺密封设备应承受5.2规定的预处理和试验。单一工艺密封设备不应依靠弹簧管或动密封 作为一次工艺密封。
YDB 034-2009 电信网安全需求4.3双重工艺密封设备
双重工艺密封设备应按照5.3的要求进行试验。 在一次和二次工艺密封之间有通风或正压空间的双重工艺密封设备，应符合GB/T3836.5有关通 风和正压装置的要求。 注：对于含有一次工艺密封失效报警的双重工艺密封设备，不考虑双重工艺密封设备一次工艺密封和二次工艺密 封的长期退化，
4.4限定最大工艺压力的电气连接设备
工艺最大额定压力为1.5kPa的设备认为符合方 试验要求。 额定压力大于1.5kPa，配备有排水孔、泄压孔或其他结构的设备，在一次工艺密封失效时能够防止 现场布线连接部位压力超过1.5kPa，应按照5.4的要求进行评定
如果工艺连接设备采用符合GB/T3836.5要求或类似技术的连续流动型通风外壳或有可靠容器 的正压设备，能够防止容器泄漏在外壳内形成可燃性混合物，则不需要进行本部分规定的预处理和试 验，视为符合本部分的要求。
4.6附加二次工艺密封
附加二次工艺密封应进行5.3.5规定的二次工艺密封泄漏试验，并按照第6章d)项的规定进 元
可在一次工艺密封和二次工艺密封之间设置泄压孔或排水孔，或者用电子传感器或其他合适的方 式，实现泄漏报警。报警的方法可包括但不限于： 声音报警； 可见的破裂或泄漏； 电子探测； 故障显示。 注：需要时，可采取断开电源、发出开启或停止信号等安全控制措施
在进行预处理和试验之前，应目视检查样品，确保符合设计文件的要求。根据样品是否作为单
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艺密封设备或双重工艺密封设备，对单个代表性样品进行5.2或5.3的试验。在每个要求对工艺密封或 工艺密封件施加压力的试验中，应采用合适的流体。除非另有说明，本部分中要求的所有试验应在 （20士5）℃温度条件下和GB3836.1规定的标准大气压力条件下进行。 预处理和试验流程图参见附录A。
5.2单一工艺密封设备
试验样品应按下列顺序进行预处理： a）温度循环； b）压力循环。 在完成规定的预处理之后，试验样品应 2.5的规定泄漏和爆裂压力试验
采用除玻璃和陶瓷之外的非金属部件进行工艺密封的设备，工艺密封的代表性样品应按下列要求 行温度循环预处理： 注1：一般情况下，把含有受试工艺密封的设备或设备部件放置在环境试验箱内。该试验工艺密封不施加热冲击或 热梯度。 持续时间或循环次数：至少2周或150次循环（先达到者）。 b）最高温度（Tmx）：生产商规定的工艺密封最高额定温度增加10K～15K。 c） 最低温度（Tmin）：生产商规定的工艺密封最低额定温度降低5K10K。 d）热稳定：温度变化率不超过2K/h时，认为达到最终温度。 在正常运行条件下，如果工艺密封的温度维持在最大波动不超过10K，则可以不进行温度循环。 图3是温度循环预处理的示意图
图3温度循环预处理示意图
作为上述预处理的替代方法，生产商也可提供证据，证明工艺密封能够承受温度变化的影响。 主2：验证生产商的温度预处理或评定的准确性不是本部分的要求。
应对工艺密封进行压力预处理。工艺密封的代表性样品应按下列要求循环增压、减压： a）循环次数：≥100000。 b） 最大压力（Pmax）：生产商规定的最大额定工作压力。 c） 最小压力（pmm）：生产商规定的最小额定工作压力（真空应用）
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d保压时间： 1）前10000次循环：最大压力至少保持1min，最小压力至少保持1min。 2）剩余90000次循环：最大压力至少保持5s，最小压力至少保持5s。 3）对于额定非真空应用的设备，最小压力保持时间可减少到1s。 正压循环和负压循环可分开独立完成。如果真空压力范围小于设备总工作压力范围的5%，则工 艺密封不需要进行真空压力预处理。 在正常运行条件下，如果施加到工艺密封上的压力维持在最大波动不超过34.5kPa，则可以不进行 玉力预处理。 作为上述预处理的替代方法，生产商可提供证据证明工艺密封能够承受可预见的压力波动。 注：验证生产商的压力波动的准确性不是本部分的要求
工艺密封应承受表1中过压试验至少1min，无可见泄漏
5.2.5爆裂压力试验
工艺密封应承受表2中过压试验至少1min，不出现破裂
5.3双重工艺密封设备
5.3.1一次工艺密封泄漏试验
按照5.2.4对一次工艺密封进行泄漏试验。
5.3.2一次工艺密封爆裂压力试验
按照5.2.5对一次工艺密封进行爆裂压力试验。
当一次工艺密封和二次工艺密封之间有泄压孔或排水孔时，应对二次工艺密封和泄压孔进行试 明适用一次工艺密封失效时出现的状况。应进行评价或试验，确定一次工艺密封失效时最不利条
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青况下的泄压压力。该压力是一次工艺密封失效报警之前二次工艺密封短时间承受的压力。 进行该试验时应考虑生产商规定的一次工艺密封失效最不利情况的压力和流通能力，以及泄压装 量的压力和流通能力。可通过理论计算得出泄压压力。如果依靠设备外壳外壁破裂进行泄压，该试验 立验证爆裂压力。 注1：对于附加二次工艺密封，由于未规定工艺连接设备特性值未知，不能确定降低的泄压压力。 注2：多数情况下，一次工艺密封失效泄漏缓慢， 与泄压孔打开时的压力相同
5.3.4验证报警效果
应通过一次艺密封失效及对设 次艺密封报警方法的有效性。应在 生产商规定的设备额定条
5.3.5二次工艺密封泄漏试验
5.3.5.1有泄压孔的设备
二次工艺密封至少应承受5.3.3规定的最大泄压压力150%的试验压力，但不大于表1规定的压力 值.至少1min.无可见泄漏，
5.3.5.2无泄压孔的设备
二次工艺密封至少应承受设备最大额定工作压力150%的试验压力，但不大于表1规定的压力值， 至少1min，无可见泄漏
应对符合4.4的设备进行评定或试验，确定现场布线连接最不利情况下的压力在一次工艺密封失 效时不超过1.5kPa。 进行该试验时应考虑一次工艺密封失效最不利情况的压力和流通能力，以及泄压孔、排水孔或其他 装置的压力和流通能力
除了其他适用标准要求的标志，设备还应清晰标志下列信息 a）工艺温度范围； b）工作压力范围； 对于含有工艺密封的电气设备，标志“工艺密封”； 1 对于附加二次工艺密封，标志“二次工艺密封”； 参见使用说明书。 或者，上述a)项或b)项可列人使用说明书。
使用说明书应包括下列信息： 第6章要求的所有信息； 密封类型：单一工艺密封、双重工艺密封、双重工艺密封一无报警、或双重工艺密封有通风 正压； 工艺密封材质及其与不同工艺流体物质的兼容性说明：
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符合本部分标准的说明； 一次工艺密封失效报警装置安装和使用说明（适用时）； 密封、泄压孔、排水孔和报警装置正确维护指南； 双重工艺密封有通风/正压的设备上连接的通风或正压系统的设计、安装和使用指南； 对于附加二次工艺密封，确定工艺连接设备和附加二次工艺密封之间附加二次工艺密封、内部 连接导管或电缆、配件、接线盒等的适用性的必要信息
图A.1给出了预处理和试验的流程
YY/T 0606.15-2014 组织工程医疗产品 第15部分：评价基质及支架免疫反应的实验方法：淋巴细胞增殖试验GB/T 3836.252019
附录A （资料性附录） 预处理和试验流程图
附录A （资料性附录） 预处理和试验流程图
图A.1预处理和试验流程图
HG/T 5084-2016 紫外线吸收剂 2-羟基-4-正辛氧基二苯甲酮(UV-531)GB/T 3836.252019
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