标准规范下载简介：
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T／CSTM 00416-2023 无损检测 太赫兹时域光谱检测和评价方法.pdf在系统使用前或定期应使用6.2.2中规定的标准试块对系统进行校验。主要校验内容包括：信号强 度，检测能力。
利用微调装置调节镜头与被检测物体之间位置，保证被检测物体处于镜头焦距范围内，使得太 域信号峰峰值最大，频域信号能量值最大。 当需要改变工作距离或是更换镜头时，应重新进行对焦，
8.2.2设置检测时窗
使用反射式检测试件时，保证试件上、下表面时域信息完全包含在检测时窗中，若试件较厚， 窗不能包含全部信息，可分两次检测试件或者调整检测时窗范围。
装饰工程拆除施工方案8.2.3设置系统参数
太赫兹时域光谱技术检测的参数设置应考虑被检物大小、检测效率以及缺陷的几何特性。受检件若 为粘接结构复合材料或者其他复杂情况下，应使用参考试件来建立合适的检测参数。 a）被检物尺寸较大、允许缺陷尺寸指标较低时，建议采用较大步距先对材料进行粗检，发现异 常区域后，对局部区域进行较小步距精检； b）太赫兹时域光谱技术检测效率受设置的检测步距影响，设置较大步距，检测效率高，但同时 降低了检测精度，对缺陷识别尺寸精度较低；反之，设置检测较小步距，检测精度提高，检测 效率降低； C） ）对于尺寸小、较难识别的缺陷，建议设置较小步距对样件进行检测
对太赫兹时域光谱检测结果的分析包括波形分析方法和成像分析方法。应根据检测目的和使用场景 选择合适的评价方法：
如图4所示为单层结构示意图，图5为反射式检测某材料单层结构时域波形图。图5中可以看出上表 面回波与下表面回波两个波峰信号a和b。若只分析下表面材料情况，则可以通过锁定感兴趣区域进行分 析，如图中锁定t1和t2区域，屏蔽信号其他部分对结果的影响。
图5反射式检测单层结构时域波形图
当被检对象内部出现缺陷时，则在缺陷处与正常区域产生交界面，在接收的太赫兹波信号中， 号a和b中间出现波峰c，如图6。此时判定在此处出现缺陷。
若被检对象为多层粘接结构，如图7所示，缺陷可能出现在材料2内部，此时，多层结构缺陷处时 域波形图为图8所示
T/CSTM004162023
图8多层结构缺陷处时域波形图
多层结构缺陷处时域波形
图8中波峰a为上表面回波，波峰b为材料1与材料2交界面反射回波，波峰c为缺陷处回波，波 峰d为材料2下表面回波。若被检对象结构较为复杂，分析波形时，需要提取多则时域光谱信号进行比 对分析，确定波形特征 在进行多层结构缺陷的波形分析的过程中，建议制作参考试块对波形进行比对分析，避免误判。
9.2.1飞行时间成像
利用各像素点对太赫兹信号的时间延迟信息成像，如：整体飞行时间，感兴趣的样品层飞行的 通过对不同的飞行时间差成像，分析其对应厚度方向的试件信息。
9.2.2最大值、最小值、峰值成像
利用各像素点太赫兹时域信号的最大值、最小值或最大值与最小值的差值成像，反映了试件对 波的消光系数。
对各像素点THz频域信号在某一段频率范围内的振幅平方值积分的信息成像，综合反映试件 他方式成像
9.2.4特定频率振幅（相位）成像
各像素点THz频域信号在某一频率的振幅（相位)值成像。 兹波对每种被测材料有不同的响应频率，通过选定该样品的敏感波段进行太赫兹成像，该方法 该像素点处被测样品的缺陷信息
9.2.5频谱积分成像
利用太赫兹主峰值的脉宽成像，该成像模型主要反映物体的色散特性，它可以清晰地呈现物体的轮 郭
9.3.1太赫兹时间序列图像分析
为了完整的判定检测结果，利用太赫兹时间序列图像分析方法，通过逐帧播放和连续播放时间序列 图像，查找异常区域。对异常区域大小、形状、位置及出现时间的分析，判读可疑缺陷。
郭家河煤矿选煤厂主厂房施工组织设计9.3.2数据库比对分析
检测结果与此前相同对象在类似检测条件下的结果进行比较，获取缺陷的
9.3.3试件比对分析
检测记录要求如下： a）应按检测规范的要求记录检测数据及信息，除此之外，还应至少包括检测报告中的内容，并按 照相关标准或合同要求保存所有记录： b）检测前检查材料组件表面是否有损伤，检测时如发现波形或检测图像出现异常，应如实记录， 并在检测结果中注明。
检测报告至少包含以下内容： a 委托单位； D 被检工件：名称、编号、规格、状态； C 检测地点； 1 被检工件状态：工件结构、表面状态； 一 检测设备：包括仪器、镜头焦距、信号质量等； ） 检测所依据的相关文件和标准； g 检测人员和责任人员的姓名、资格和签字； D 检测日期； 检测结果及评定； i 参考试块的描述：
附录A （资料性） 起草单位和主要起草人 本文件起草单位：中国特种设备检测研究院循环水进出水管更换、循环水道楼梯更换等施工方案，长春理工大学，硕德（北京）科技有限公司，甘肃 省特种设备检验检测研究院，广东省特种设备检测研究院中山检测院，成都神龙爵光电科技有限公司。 本文件主要起草人：俞跃、香勇、李丽娟、魏东、李沧、林凯明、任姣姣、张丹丹、唐卫国、丁 俊才、乔晓利、顾健。
本文件起草单位：中国特种设备检测研究院，长春理工大学，硕德（北京）科技有限公司， 特种设备检验检测研究院，广东省特种设备检测研究院中山检测院，成都神龙爵光电科技有限 本文件主要起草人：俞跃、香勇、李丽娟、魏东、李沧、林凯明、任姣姣、张丹丹、唐卫国 才、乔晓利、顾健。