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JC／T2545-2019 高性能红外探测器用热释电单晶.pdf外观质量进行目测检验。
产品的长度和宽度采用分度值不大于0.02mm的游标、带表或数显卡尺进行检测。 产品的厚度采用分度值不大于0.01mm的螺纹千分尺进行检测。
按照GB/T11297.10的规定QGLX 0001S-2016 广汉隆兴食品有限公司 速冻调制肉串，在测试频率为1kHz的条件下进行检测。
6.3.3相对介电常数
6.3.4介电损耗角正切
■按照NB/SH/T0632的规定检验，在测
安照GB/T11297.8的规定检验，在测试温度为25C的条件下进行检测。
6.3.7电流响应优值
6.3.8电压响应优值
式(3）进行计算，探测率优值的频率响应机制和
7.1检验分类和检验项目
险验分为出厂检验和型式检验，检验项目见表3
JC/T25452019
注：表中“√”表示必检项目：“”表示选检项目。
JC/T2545—2019
一批原料在同一条生产线上经相同工艺连续生产的，具有相同规格尺寸的产品组成。
由同一组成同一批原料在同一条生产线上经相同工艺连续生产的，具有相同规格尺寸的产品组
7. 2. 2抽样方案
7. 2. 3合格判定
每个样本的各项检验项目全部符合要求时，则出厂检验合格；有一项或一项以上指标未符合规 寸，应按表4的规定加倍抽样重新检验，仍有一项或一项以上指标未符合规定要求，则应对提交 #行100%检验。
凡有下列情况之一时，应进行型式检验： a）产品定型鉴定或产品转厂生产时； b) 正式生产后，如设备、原材料、工艺有改变，可能影响产品的质量时： c）停产12个月及以上，恢复生产时； d）批量生产时，每隔12个月进行一次
按表4的抽样方案进行。
每个试样的各项检验项目均符合要求，则判型式检验合格：若有一项不符合要求，则判 合格。
8标志、包装、运输和贮存
的标志应包括：产品名称、型号规格、数量、生
应防止污染、碰撞、挤压、强烈震动。
产品应贮存在室温、洁净和无化学腐蚀性的环境中
JCT25452019
则试方法如下： 将试样放置于加热炉的均匀温区内，热电偶的放置位置应能确切反映试样的温度。连接好线路， 按需要调节好仪器的各档量程： 以小于0.5℃/min的速率升温，每隔不大于0.1℃记录下热电偶的温度值和电容值的一组对应 数据，并画出介电常数随温度变化曲线，如图A.1所示：
图A.1热释电单晶介电常数随温度变化曲线
B.1热释电红外探测器的噪声
附录B （资料性附录） 优值的频率响应机制和特点
在实际使用过程中，内部及外部的 电红外探测器的性能。探测器中的噪声来源 主要有以下几种，见表B.1。其中e.、i为电子元件的固有参数
热释电红外探测器中的
总噪声为各噪声的平方和开根号，见公式(B.1)
该值的大小反映了红外探测器可探测红外光的最小功率。 比探测率D*作为反映红外探测器信噪比的一个常用的参数，其计算公式见公式(B.3)：
它表示的是单位表面积（1cm）和单位带宽（1Hz）下的探测率。 在1Hz以上的情况下，探测器的热时间常数tr与电时间常数te大约在0.1s～10s范围，此处作些 简化，令wtT≥1，Wte≥1，此时uD、R、uT、u的值分别见公式(B.4)、公式(B.5)、公式(B.6)、公式 (B.7):
性能热释电单晶红外探测器噪声的频率响应机制
JC/T25452019
4kTtan up (B. 4) wCp 1 4kT (B. 5) uR wC,RG p 4kT?G (B. 6) u wCyd,C (B. 7) u
QC/T 1128-2019 汽车用摄像头表B.2电压模式下模拟用灵敏元的性能参数
从图B.1中可以看出，当电阻值为10GQ2时，在低频段0.1Hz JC/T2545—2019 式中不同电阻值下热释电红外探测器的噪声密 另一方面，在电阻值100G2时，对灵敏元的损耗分别为0.001、0.003、0.005、0.01、0.0001 电损耗噪声进行了模拟ZJM 010-4462-2019 工业用缝纫机 计算机控制高速绷缝缝纫机，如图B.2所示。可见，在1Hz 值100GQ时热释电红外探测器的介电损耗噪声 JC/T2545—2019B.3高性能热释电单晶探测优值的频率响应机制在理想情况下，不考虑温度噪声uT，在低频段10Hz时，假使un～uR，D'的值见公式(B.8)：D*~pa(B. 8)Gr /[1+(wtr)"]由前文可知t》1，得：poD*,p=FGrwTTCvF，为灵敏元的电流探测优值。在10Hz