JCT2399-2017 偏置电场下材料热释电系数测试方法

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JCT2399-2017 偏置电场下材料热释电系数测试方法

本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国建筑材料联合会提出。 本标准由全国工业陶瓷标准化技术委员会功能陶瓷分技术委员会(SAC/TC194/SC3)归口。 本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。 本标准主要起草人:曹菲、姚春华、毛朝梁、王根水、董显林。 本标准为首次发布。

电场下材料热释电系数测试方

本标准规定了直流偏置电场下材料热释电系数的术语和定义、测量原理、试样、测试条件、设备利 仪器、测试方法、计算和报告。

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T3389.1铁电压电陶瓷词汇

GB/T3389.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 直流偏置电场DCbiasfield 测量材料热释电系数时,施加在被测样品两端的直流电压称为直流偏置电压。直流偏置电压与被测 样品厚度的比值,称为直流偏置电场QB/T 5449-2019 口腔清洁护理用品 牙膏中荭草苷的测定 高效液相色谱法

热释电系数测量装置见图1,该测量是通过直流电压源向试样施加直流偏置电场E),再由高低温 试验箱确定温度随时间的变化率,测量试样的极化强度(P)随温度(T)的变化。 用电压表测量取样电阻(R)两端的电压值(U),同时,记录温度(T)随时间(t)变化的曲线。根据公 式(1)可得到不同温度和直流偏置电场下的热释电系数(pm)。给出的热释电系数应指明测试温度和直流 偏置电场。

dt U At dT AxR AT

IC/T 23992017

图1热释电系数测量装置

试样应符合下列要求: a)试样为方形或圆形薄片,两个主表面积为10mm~100mm,厚度为0.20mm~1.00mm b) 试样应经细磨或抛光;表面应平整、清洁;试样的两个主表面应涂覆金属全电极;

试样应符合下列要求: a)试样为方形或圆形薄片,两个主表面积为10mm~100mm,厚度为0.20mm~1.00mm b)试样应经细磨或抛光;表面应平整、清洁;试样的两个主表面应涂覆金属全电极; c)在测试温度范围内,试样的体积电阻率应大于1x10"Q·cma

测试的大气条件如下: a) 温度:15℃~35℃; b) 相对湿度:25%~75%; c)大气压力:86kPa~106kPa。

6.2仲裁测试的大气条件

仲裁测试的大气条件如下: a)温度:(25±2)℃; b)相对湿度:45%~55%; c)大气压力:86kPa~106kPa

JC/T23992017

NY/T 2654-2014 软罐头电子束辐照加工工艺规范中裁测试的大气条件如下: 温度:(25±2)℃; 相对湿度:45%~55%; 大气压力:86kPa~106kPa。

a 将试样放入高低温试验箱,试样所处位置的温度应均匀,温度敏感元件应靠近试样且电绝缘, 如果低于室温测量时,则应抽密封试样,以防止试样受潮; 启动控温程序,待温度变至起始温度,保温10min~15min; 缓慢增加直流偏置电场至所需要值,2min~3min后加热试样,升温速率应为2℃/min~4℃/min, 温度采样间隔应不大于0.2℃,记录测得的电压(U)、温度(T)和时间()。

将试样放入高低温试验箱,试样所处位置的温度应均匀,温度敏感元件应靠近试样且电 如果低于室温测量时,则应抽密封试样,以防止试样受潮; 启动控温程序,待温度变至起始温度,保温10min~15min; 缓慢增加直流偏置电场至所需要值,2min~3min后加热试样,升温速率应为2℃/min~4℃ 温度采样间隔应不大于0.2℃,记录测得的电压(U)、温度(T)和时间()

按公式(1)分别计算对应直流偏置电场(E)与温度(T)时的热释电系数Pm

按公式(1)分别计算对应直流偏置电场(E)与温度(T)时的热释电系数Pm

报告应至少包括: a) 试验报告签发日期; o 试样的几何尺寸(本身必要的详细说明); c) 所用仪器型号; d)测试条件QCCQK 0002S-2016 长春市乾坤食品加工厂 酱卤肉皮,如测试温度、偏置电场: e)测试结果。

报告应至少包括: a) 试验报告签发日期; o 试样的几何尺寸(本身必要的详细说明); C) 所用仪器型号; d)测试条件,如测试温度、偏置电场; e)测试结果。

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