GB/T 38531-2020 微束分析 致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像(CT)分析方法

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GB/T 38531-2020 微束分析 致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像(CT)分析方法

软件系统应具备以下功能: a 调节并控制X射线源功率、探测器曝光时间、射线源、样品台及探测器位置、样品扫描角度,并 能按照设定的扫描条件自动变换角度,扫描并存储试样投影图像。 b 按照固定算法对投影图像计算得到二维切片,具有重构、预览、去除伪影、中心偏移及图像增强 等功能。

环境条件应符合GB/T27025、GB/T29070规定

将试样制备为圆柱状,试样直径应根据扫描分辨率确定,确保试样在360°扫描过程中GB/T 23392.3-2009 十字花科蔬菜病虫害测报技术规范 小菜蛾,试样图像应 在探测器的接收范围之内

6.2.1扫描模式设置

X射线源开机后,经X射线源与探测器预热,得到稳定的X射线,根据试样化学成分、最小感兴 成像分辨率的关系,选定扫描模式。煤岩低密度试样宜采用相位衬度扫描模式,其余岩石试样宜 及收衬度扫描模式

6.2.2试样旋转中心调节

将试样固定在试样台上,打开射线源及探测器,预览试样二维投射图像,并沿方向(射线源与探 则器连线方向)、Y方向(水平面内垂直于射线源与探测器连线方向)及Z方向(竖直方向)调整试样位 置,使试样图像处于探测器视野之内,调整试样轴心与试样台旋转轴心重合,保证试样在360°旋转扫描 过程中,扫描图像不会超出探测器视野。调节流程符合GB/T29034、GB/T29070和GB17589的 要求。

6.2.3试样X射线穿透率调节

数值除以空白图像各点的灰度数值, 调整X射线源电压、束流及曝光时间 使得试样的X射线平均穿透率在25%~ ~40%之间。记录参数

6.2.4投影图像数量选定

设定投影图像数量,宜不少于1200张,试验过程中可根据实际情况灵活调整扫描张数,记录扫

6.3.2试样成像数据采集

背底采集完成后,将试样移回X射线视域,采用相同的扫描参数采集试样X射线成像数据。试 360°,采集X射线成像数据

6.3.3图像漂移消除的数据采集

GB/T385312020

采用与6.3.2相同的扫描参数,根据仪器性能采集特定张数(以15张~20张为宜)的试样360° 成像数据。

利用6.3.2采集的试样成像数据减去6.3.1采集的背底数据,消除背厂

利用6.3.3数据消除试样扫描过程中物理偏移的影响

选择两个或两个以上角度的投影图像,逐步调节转轴中心偏移量,进行预重构。参考面图像中矿 物轮廓、孔隙边缘清晰时,确定转轴中心偏移量,进行图像重构,并检查图像质量。重构后图像应无环状 或线状伪影(见图2),样品边缘轮廓无重影,特征矿物晶形明显,孔隙边缘清晰,否则需重新重构或者重 新采集。

图2环状伪影与线状伪影图像举例

7.4.2孔隙识别与参数计算

图3图像滤波前后对比实例

报告内容应满足GB/T27025的要求,包括基本信息、设备信息、样品信息、扫描参数与分析结果 可参见附录A实例。

买验室名称、报告编号、分析人、审核人、签发人与

包括设备型号、基本参数、采纳的标准规范

包括地区、层位、井号、深度、岩性、原编号与尺寸。

包括扫描模式、曝光时间、扫描张数

GB/T385312020

包括孔隙结构定量评价表及成果图件,其中孔隙结构定量评价表包括但不限于孔隙度、形状因子与 孔隙连通率,成果图件包括但不限于原始扫描二维切片、孔隙识别二维切片、三维岩石模型图、三维孔隙 模型图、孔隙直径分布直方图、孔隙数量分布直方图、孔隙体积分布直方图、孔隙面积分布直方图。二维 切片图像应标注分辨率,宜采用“.tiff”“.png”等格式的二维图片。三维重构图像,可用于图形图像定量 计算机分析.输出格式宜采用“.raw”标准格式。具体可参见附录B实例

GB/T38531—2020

附录A (资料性附录) 致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析报告格式示例

本附录给出了致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析的报告示例,见图A.1一 围A1~表A5

图A.1检测报告基本信息实例

图A.2分析报告设备信息实例

表A.1检测报告中样品信息与扫描参数实例

A.3分析报告二维切片与三维孔隙模型图像实

表A.2不同物质相像素点数量与体积统计表

表A.3孔隙度与连通率计算结果统计表

GB/T38531—2020

表A.4孔隙直径、数量、面积与体积分布统计表

表A.5孔隙直径、数量、面积与体积分布统计表

图A.4分析报告——孔隙面积分布直方图实例

图A.5分析报告—孔隙体积分布直方图实例

图A.6分析报告——孔隙数量分布直方图实例

B.1影响不确定度的主要因素

3.1影响不确定度的主

QXCZXD 0001-2015 北京正兴德茶叶有限公司 “正兴德”牌茉莉花茶a)试样的不均匀性(例如矿物组成复杂、孔隙结构差异大); b 试样的粗糙度(例如形状不规则); 射线源的不稳定性(例如电压、束流、能量); d)探测器老化(例如稳定度、分辨率、校正、污染、坏点); e 扫描参数设置不当(例如电压、分辨率、曝光时间、X射线穿透率); f)孔隙识别误差(例如孔隙与矿物基质); 图像处理不当(例如滤波、平滑不当); h)基本校正误差(例如没有公认的表格、数据)

B.2多家单位典型样品分析结果比对

附录B (资料性附录) 不确定度影响因素及典型样品多家实验室对比结果

针对典型的致密砂岩与页岩样品,选择行业内具有多年分析经验的、技术较成熟的四家实验室开展 孔隙结构分析,四家单位按照7.4.1与7.4.2计算了孔隙度、孔隙连通率、孔隙直径分布,分析结果具有 较好的一致性,孔隙度计算相对偏差小于10%,具体见表B.1~表B.3

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GY/T 277-2019 视音频内容分发数字版权管理技术规范 %/1+ 4 2 z'6 Z'91 o '2 早 %/1t 8'9 0'S1 8'91 S'S I'fl z'6 1'92 2 吾臻 2292 186 [8 809 192 201 4 0 2 % / 0 5 6'9 5 8'1 '1z 8'2f o 早 % / 6 2 4 8 S'f 8'98 8'88 0 吾 61F8 0001 OFS O 5 3 % /1+ 3 0'f 3 6'01 8'22 s'zl 'S8 早 % /H o s'O '6 O'SI z'f1 5'82 'll '12 华 吾臻 9112 10 81 89SS 0 058 621 0 3 且 % / o 2 9 Z'8 8'6 8'91 6°91 I'S [ % /H 0 'S 0'z1 2'91 1'91 5'z8 0 0 吾臻 9286 6882 9 828 5 0 3 0[~S 02~01 0~00 00~0S C001 uri [~0 Z~[ ~z

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