GB/T 19444-2004 硅片氧沉淀特性的测定-间隙氧含量减少法 更新时间:2008年02月19日 资源 GB/T 19444-2004 硅片氧沉淀特性的测定-间隙氧含量减少法 积分0.00 特惠 积分0 VIP全站资料免积分下载 立即下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 19444-2004 文件类型:.rar 资源大小:138.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:8322 VIP资源 GB/T 19444-2004标准规范下载简介: GB/T 19444-2004 硅片氧沉淀特性的测定-间隙氧含量减少法 本标准规定了由测量硅片间隙氧含量的减少量来检验硅片氧沉淀特性的方法原理、取样规则、热处理程序、试验步骤、数据计算等内容。本标准用于定性比较两批或多批集成电路用硅片间隙氧沉淀特性。 冶金标准 邮政标准 电子标准 航天工业标准 铁路运输标准 医药标准 民用航空标准 建筑工业标准 包装标准 体育标准 兵工民品标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 19435-2004 滑动轴承用铝锡合金-钢复合带 下一篇 GB/T 19446-2004 异型接点带通用规范 相关文章