GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法 更新时间:2008年02月19日 资源 GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法 积分0.00 特惠 积分0 VIP全站资料免积分下载 立即下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 1551-1995 文件类型:.rar 资源大小:274.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:8258 VIP资源 GB/T 1551-1995标准规范下载简介: GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法 本标准规定了用直流两探针测量硅和锗单晶锭电阻率的方法。本标准适用于测量截面积均匀的圆形、方形或矩形单晶锭的电阻率。 化工标准 包装标准 民政标准 外经贸标准 林业标准 冶金标准 烟草标准 电力标准 煤炭标准 航天工业标准 水产标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法 下一篇 GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 相关文章