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GB／T 38537-2020 纤维增强树脂基复合材料超声检测方法 C扫描法.2.1应选用与被检件相同的原材料、厚度、工艺和表面状态制作对比试块，并采用比验收等级高一级 的灵敏度进行检测。对比试块中不应存在影响使用的自然缺陷，对比试块的尺寸和缺陷可参见附录A 和附录B。 5.2.2对比试块也可采用具有自然缺陷的被检件，自然缺陷类型、尺寸、位置、取向及分布情况应详细 己录并应经各方确认。 .2.3对于曲率半径小于或等于150mm的被检件，应采用曲面对比试块；对于曲率半径大于150mm 的被检件，可采用*面对比试块。 .2.4对比试块制作好之后，应按试块设计图纸，采用超声C扫描法进行验证，记录缺陷尺寸与验证测 式结果的偏差，并对结果进行修正，
采用厚度与对比试块相同的有机玻璃板制作参考试块，其表面粗糙度Ra应不超过3.2um。
采用洁净、无气泡和无杂质的循环*作耦合剂，必要时*中可添加不损伤被检件和设备的防腐 湿剂，*温应控制在10℃~35℃。
根据被检件材料特性、结构特点和检测要求确定检测方法；根据复合材料声衰减特性及要求检出的
最小缺陷确定探头参数DB51T 1208-2011 鲜香菇产品等级，检测方法和探头的选择可参则附录C
8.1.2.1接触式超声脉冲反射法
将探头置于与被检件厚度相同或者 调整超声波检测仪，使要求检出的最小缺 波高度达到检测仪荧光屏满刻度的80% ，以此时的分贝值作为检测灵敏度
8.1.2.2**式超声脉冲反射法
选择与被检件厚度相同或相近的对比试块，调整探头角度使发射波声束中心线与对比试块垂直，调 整超声波检测仪，使要求检出的最小缺陷反射波高度达到检测仪荧光屏满刻度的80%，以此时的分贝 值作为检测灵敏度。
8.1.2.3喷*式超声脉冲穿透法
选用与被检件相同厚度的对比试 要收探头的轴线对中，并使*料 垂直于对比试块表面。设置闸门高度为屏幕高度的20%～50%，调节报警闸门使穿透波处于闸
8.1.3扫查间距确定
将探头对准对比试块中要求检出的埋深最小的最小缺陷位置，调节增益，使该缺陷的反射波高度达 到检测仪荧光屏满刻度的80%，然后沿缺陷的直径方向移动探头，找出反射波高度下降6dB的两点距 离；以不超过此距离的二分之一作为扫查间距，扫查间距应保证要求检出的最小缺陷至少能被连续检出 3次，且此缺陷的超声C扫描图像清晰可辨
8.1.4扫查速度确定
扫查速度的选择应考虑操作人员的辨别能力和设备记录信号能力，应保证得到清晰的回波并能够 稳定的触发记录。能清晰分辨要求检出的最小缺陷时，可选用检测系统允许范围内的更大扫查速度
8.1.5*程距离确定
8.1.5.1**式脉冲反射法
调整**聚焦探头与对比试块之间的*程距离，使**聚焦探头的有效焦距落入对比试块中，同 声反射波在荧光屏上分辨，可通过式（1）计算
式中： S *程距离，单位为毫米（mm）； F 探头在*中焦距，单位为毫米（mm）； C2 对比试块声速，单位为毫米每秒（mm/s）； T 对比试块厚度，单位为毫米（mm）； Ci *的声速，单位为毫米每秒（mm/s）
式中： S *程距离，单位为毫米（mm）； F 探头在*中焦距，单位为毫米（mm）； C2 对比试块声速，单位为毫米每秒（mm/s）； T 对比试块厚度，单位为毫米（mm）； Ci *的声速，单位为毫米每秒（mm/s）
8.1.5.2喷*式脉冲穿
调整喷*探头与被检件间的*程距离，当使用***探头时，应便被检件处于发射探头与接收探头
GB/T 385372020
的有效工作区域：使用**聚焦探头时，应使被检件处于发射探头与接收探头的有效聚焦区域。
根据被检件材料、结构、尺寸、检测要求等内容编制工艺卡，一般应包括以下内容：工艺卡编号、被检 件名称、纤维种类、树脂种类、成型工艺、检测序号、检测标准、设备型号、试块、检测工艺参数、检测示意 图等，工艺卡编制可参见附录D或根据检测特点自行制定
3.3.1检测前应清除被检件表面的灰尘、污染物或影响检测的异物等，可采用对被检件无影响的溶剂 擦拭被检件表面。 3.3.2目视检测被检件有无边缘分层，气孔、划伤、皱褶等影响超声检测的异常现象，若出现边缘分层 或开口，应进行密封处理。对于影响超声检测结果的异常现象应在检测记录中注明。 3.3.3在被检件上标记扫查零点，对被检件进行检测，做好检测记录及保存检测结果，检测结束后，应 立即清除表面的*迹，便于被检件存放和储藏。 3.3.4对于一次不能扫查完毕的大型构件，应分段进行扫查，并应在被检件的检测部位做标记和记录 验测结果。 8.3.5对于变截面构件，若声束无法完全与受检件表面垂直，可适当提高检测灵敏度进行检测
调节数据采集系统中回波幅值对应的颜色设置，使超声C扫描图上显示的缺陷颜色和对比试块中 的缺陷颜色一致，以此确定缺陷的图像特征（部分典型缺陷超声C扫描图参见附录E），记录缺陷的尺 寸、位置等信息
根据超声C扫描图像上缺陷的位置坐标和图像特征，在被检件表面进行缺陷轮廓的标记。
9.3.1接触式/**式超声脉冲反射法
9.3.1.1对于小于或等于探头直径的缺陷，缺陷埋深和尺寸采用与对比试块比较的方法确定。若检出 的缺陷与对比试块上缺陷埋深相同，采用对比试块缺陷尺寸来确定缺陷尺寸；若检出的缺陷与对比试块 上缺陷埋深不同，采用与其声程相近的对比试块上缺陷的回波幅值确定缺陷尺寸。 9.3.1.2对于大于探头直径的缺陷，缺陷尺寸采用半波高度法（6dB法）确定
9.3.2喷*式超声脉冲穿透法
9.3.2.1对于小于或等于*柱直径的缺陷，按9.3.1.1的规定。 9.3.2.2对于大于*柱直径的缺陷，可采用对比试块上稍大于*柱直径的缺陷作为标定缺陷（设其尺寸 为W），测量标定缺陷的尺寸（设其为A），测量被检件中的缺陷尺寸（设其为B），则被检件中缺陷的测 量尺寸为B一（A一W）
记录一般应包括以下内容： a）委托单位； b）产品名称、材料、编号、数量； 本标准编号及检测方法； 仪器设备和探头的名称、型号； e） 对比试块名称、编号； 检测工艺文件； g） 缺陷位置、轮廊、缺陷类型、尺寸、深度； h）检测人员审核人员、日期
报告内容一般应包括如下内容： a）报告编号； 委托单位； 收样日期和检测日期； d）被检件名称、材料、编号、数量； 检测方法、检测标准； 检测图像，并用文字标注缺陷位置、轮廊、缺陷类型、尺寸、深度等信息 g）结果评定； h）检测人员、审核人员和批准人员
报告内容一般应包括如下内容： a）报告编号； 委托单位； 收样日期和检测日期； d）被检件名称、材料、编号、数量； 检测方法、检测标准； 检测图像，并用文字标注缺陷位置、轮廓、缺陷类型、尺寸、深度等信息： g）结果评定； h）检测人员、审核人员和批准人员
GB/T38537—2020
附 录 A （资料性附录） 接触式/**式超声脉冲反射法对比试块
采用两层厚度为0.02mm～0.05mm的聚四氟乙烯薄膜或不透声材料，对于层压结构复合材料构 牛，在距离试块上表面位置第二层与第三层纤维布、试块二分之一厚度处（0.5H）和下表面位置第二层 与第三层纤维布预置圆形缺陷。对比试块的规格尺寸见表A.1,对比试块的形状示意图见图A.1。
表A.1对比试块规格尺寸
GB/T 38537—2020
GB/T38537—2020
4.2.1对比试块可制作成8层、12层、16层、20层、24层、32层。 A.2.2对比试块制作好之后，应采用无损害、可长期保留的记录介质对对比试块进行分类标识，标识区 域应避开预置缺陷。 A.2.3当对比试块材料老化和性能产生变化时，可采用参考试块对缺陷进行判断与分析
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附录B （资料性附录） 喷*式超声脉冲穿透法对比试块
透声材料在试块表面制作喷*式超声 穿透法对比试块，对比试块的规格尺寸见 元图B.
B.1对比试块规格尺
宽*式超声穿透法对比试
对比试块制作好之后，应采用无损害、可长期保留的记录介质对对比试块进行分类标识， 应避开预置缺陷
附 录 C （资料性附录） 检测方法及探头参数 标准推荐采用的检测方法和探头参数见表C.1
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表C.1检测方法及探头参数
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附 录 D （资料性附录） 纤维增强树脂基复合材料超声C扫描法工艺卡
纤维增强树脂基复合材料超声C扫描法的工艺卡见表D.1
DB43T 1493-2018 贵铅中银量的测定 火试金重量法和氯化钠电位滴定法纤维增强树脂基复合材料超声C扫描法工艺
附录E （资料性附录） 部分典型缺陷超声C扫描图
E.1碳纤维增强树脂基复合材料分层缺陷超声C扫描图见图E.1
E.1碳纤维增强树脂基复合材料分层缺陷超声C扫描图见图E.1
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附录E （资料性附录） 部分典型缺陷超声C扫描图
E.1碳纤维增强树脂基复合材料分层缺陷超声（
GB 16487.9-2017 进口可用作原料的固体废物环境保护控制标准—废电线电缆图E.2玻璃纤维增强树脂基复合材料分层缺陷超声C扫描图