GB T 14048.22-2022低压开关设备和控制设备 第7-4部分:辅助器件铜导体的PCB接线端子排.pdf

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GB T 14048.22-2022低压开关设备和控制设备 第7-4部分:辅助器件铜导体的PCB接线端子排.pdf

GB/T 14048.222022

夹紧件应在确保机械连接及电接触可靠的条件下接入导线。 另外,如果夹紧件的接触压力通过绝缘材料传递,则应进行9.4.7.3规定的试验。如果此接触压力 仅通过陶瓷或纯云母传递,则不必进行9.4.7.3规定的试验。 表3中列出的夹紧件及其连接方法满足本文件的要求。 本文件给出了附加要求。 其他端子和其连接方法应根据相关标准进行试验

保宜高速挡墙施工方案表3夹紧件及其连接方式的适用标准

GB/T 14048.22—2022

表3夹紧件及其连接方式的适用标准(续)

PCB接线端子排应能够通过钎焊、压人、螺钉等方式可靠地安装在印制电路板上。连接导线时不 应破坏PCB接线端子排与印制电路板间的连接。 试验应按9.3.2规定进行。

8.1.3电气间隙和爬电距离

8.1.4接线端子的识别和标志

8.1.5耐非正常热和火

8.1.6最大截面积和连接能力

PCB接线端子排应能接人具有最大截面积和连接能力(如适用)的导线。 一致性要求按照9.3.4规定的试验进行验证。

截面积的验证可按照9.3.5规定的特殊试验进行。

GB/T 14048.222022

8.2.3短时耐受电流

9.4.6的规定,PCB接线端子排应能承受1s短时耐受电流,此电流相当于在其额定截面积上的 毫米通以120A的电流。 选用制造商所声明的触头单元电流路径中的最小截面积进行试验。

按9.4.4进行测量时,因接人导线和安装到印制电路板上所导致的PCB接线端子排接触电阻 化值不应超过偏差允许值。

2.5.1气候程序试验和

应对所有类型的PCB接线端子排进行气候程序试验,以检验线路连接对温度影响和腐蚀环境的耐 受力。 要求按9.4.7.1中规定验证

8.2.5.2无螺纹型PCB接线端子排的老化试验

为验证无螺纹型PCB接线端子排,应进行老化试验。 一致性要求按9.4.7.2中规定验证(如相关)。 对于通过绝缘材料来传递接触压力的无螺纹型PCB接线端子,仅需进行9.4.7.3的电流循环老化 试验。

机械特性的验证包括以下各项试验: PCB接线端子排安装在支架上的试验(见9.3.2); 验证最大截面积和连接能力试验(见9.3.4); 验证最大截面积试验(带量规的特殊试验)(见9.3.5)

9.3.2PCB接线端子排安装在支架上

试验应在PCB接线端子排的最少极数(宜两极)上进行,接线端子排应按制造商说明书的规定按照 正常使用条件安装在合适的支架(印制电路板)上。对于需要焊接至印制电路板的PCB接线端子排,本 试验应在适用时在带有镀铜孔的印制电路板上进行。 试验时应按图1所示为PCB接线端子排接线,最大截面积按制造商的规定选取。 按9.4.4进行接触电阻验证试验后,如适用应按制造商说明书连接和拆卸该导线五次。每一次连 接应使用新的导线端部。 带螺纹型夹紧件的PCB接线端子排的拧紧力矩应按表4的规定值,或按制造商规定的更高力 矩值。

GB/T 14048.222022

带螺纹型夹紧件的PCB接线端子排的拧紧力矩

注1:第Ia列适用于拧紧时不突出孔外的无头螺钉和不能用刀口宽度大于螺钉根部直径的螺丝刀拧紧的其他 螺钉。 注2:第Ib列适用于头部直径小于螺纹直径1.5倍拧紧时不突出孔外的无头螺钉,和不能用刀口宽度大于螺钉 孔径的螺丝刀拧紧的其他螺钉。 注3:第Ⅱ列适用于用螺丝刀拧紧的螺钉和螺母。 注4:第Ⅲ列适用于不可用螺丝刀来拧紧的螺钉和螺母。

1:第Ia列适用于拧紧时不突出孔外的无头螺钉和不能用刀口宽度大于螺钉根部直径的螺丝刀拧紧的其他 螺钉。 :第D列适用于头部直径小于螺纹直径1

试验结束时PCB接线端子排应符合9.4.4中接触电阻试验的规定。试验后端子组件不应有影 一步使用的损坏。

9.3.4验证最大截面积和连接能力

最大截面积和连接能力应按所用夹紧件的标准来进行验证(见8.1.1)。 注:夹紧件的机械特性按表3中所列的适用的连接方式进行试验。

最大截面积和连接能力应按所用夹紧件的标准来进行验证(见8.1.1)。 注:夹紧件的机械特性按表3中所列的适用的连接方式进行试验。

9.3.5验证最大截面积(使用量规的特殊试验)

证最大截面积(使用量规

电气特性的验证包括以下各项试验: 验证电气间隙和爬电距离(见9.4.2); 介电试验(见9.4.3); 验证接触电阻(见9.4.4); 温升试验(见9.4.5); 短时耐受电流试验(见9.4.6); 老化试验(见9.4.7.1、9.4.7.2和9.4.7.3)。

电气特性的验证包括以下各项试验: 验证电气间隙和爬电距离(见9.4.2); 介电试验(见9.4.3); 验证接触电阻(见9.4.4); 温升试验(见9.4.5); 短时耐受电流试验(见9.4.6); 老化试验(见9.4.7.1、9.4.7.2和9.4.7.3)。

9.4.2验证电气间隙和爬电距离

9.4.2.1一般要求

9.4.2.2电气间隙

9.4.2.3爬电距离

武隆县污水处理厂污水收集系统工程施工组织设计GB/T 14048.22—2022

表5冲击耐受试验电压

表6对应于额定绝缘电压的介电试验电压

9.4.4验证接触电阻

DB45T 2237-2020 养老机构老年人护理常见风险防控规范.pdf应在下列情况下验证接触电阻: a)PCB接线端子排安装在支架上的试验的前后(见9.3.2); b)在短时耐受电流试验的前后(见9.4.6); c)在气候程序试验及腐蚀试验的前后(见9.4.7.1); d)在无螺纹型PCB接线端子排的老化试验中及试验后(见9.4.7.2); e)在通过绝缘材料来传递接触压力的夹紧件附加试验中及试验后(见9.4.7.3)。 按9.3.2、9.4.6、9.4.7.1、9.4.7.2(如相关)和9.4.7.3(如相关)的规定进行验证。

应在下列情况下验证接触电阻: a)PCB接线端子排安装在支架上的试验的前后(见9.3.2); b)在短时耐受电流试验的前后(见9.4.6); c)在气候程序试验及腐蚀试验的前后(见9.4.7.1); d)在无螺纹型PCB接线端子排的老化试验中及试验后(见9.4.7.2); e)在通过绝缘材料来传递接触压力的夹紧件附加试验中及试验后(见9.4.7.3)。 按9.3.2、9.4.6、9.4.7.1、9.4.7.2(如相关)和9.4.7.3(如相关)的规定进行验证。

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