SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法.pdf

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SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法.pdf

6.4等效输入噪声电流功率谱密度

按照下列步骤,分别进行噪声电流功率谱密度和传输函数的测试,计算等效输入噪声电流功率谐 密度: a 接入被测晶体管,开关断开,按照4b)要求设置与调节偏置电压、偏置电流等条件: b 调节低噪声前置放大器的带宽和增益,使放大器输出信号在数据采集分析设备量程内; C 设置数据采集分析设备的采样率、频谱分辨率和测量平均次数。除另有规定外,测量平均次数 不少于16次; d 进行噪声电流功率谱密度测试。 e 开关闭合,按照6.4b)~6.4d)步骤,测试晶体管的噪声电流功率谱密度: 测试白噪声源的噪声电流功率谱密度; g) 按照SJ/T11769的公式(3)计算得到被测晶体管的传输函数: h 由6.4d)得到的噪声电流功率谱密度除以6.4g)得到的传输函数,得到被测晶体管的等效鞘 入噪声电流功率谱密度。典型噪声电流功率谱密度图谱参见附录A。

6.5等效输入噪声电流

按照下列步骤,测试并计算噪声系数: a)按照6.2的要求,测试等效输入噪声电压功率谱密度; b)按照4b)中规定的测试频率,对6.6a)得到的等效输入噪声电压功率谱密度取均方根值,计 算等效输入噪声电压有效值E c)按照SJ/T11769的公式(1)计算源电阻Rs所产生的热噪声电压Et; d)由6.6b)得到的等效输入噪声电压有效值E和6.6c)得到的热噪声电压E,按照SJ/T11769 的公式(2)计算得到被测晶体管噪声系数N。典型噪声系数图谱参见附录A。

测试数据的记录应符合下列要求: a)测试记录应包括:测试环境条件、产品型号规格、批号、编号,偏置电压、偏置电流、测试频 率、源电阻,噪声电压功率谱密度、噪声电压、噪声电流功率谱密度和噪声电流等参数。 b)按照被测晶体管对应型号产品详细规范规定的要求,形成测试报告。

SJ/T117652020

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