GB/T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度 更新时间:2019年06月06日 资源 GB/T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度 VIP全站资料免积分下载 没有资源,无法下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 4937.19-2018 文件类型:.rar 资源大小:1.69MB 标准类别:国家标准 资源ID:189249 VIP资源 GB/T 4937.19-2018标准规范下载简介: GB/T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度 稀土标准 测绘标准 电力标准 铁路运输标准 金融标准 地方标准 航天工业标准 气象标准 纺织标准 化工标准 旅游标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 4937.18-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量) 下一篇 GB/T 4937.201-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输 相关文章