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GB／T 37131-2018 纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法

积分球是一个金属空心球，内壁涂有高反射率材料（见图2）。参比光束与样品光束分别照射到参 比白板与样品上，经过漫反射进人积分球内部。光束在球内经多次漫反射，形成一个理想的漫射源，可 以消除被测样品与探测器件受光面的不均匀性带来的影响，以及测试中偏振的影响。 注：高反射率材料一般为Al.O、BaSO、MgO或聚四氟乙烯

样品池直径大于2cm

包括以下内容： a） 自制白板：取AlO：、BaSO、MgO或聚四氟乙烯四种材料之一放人样品池中并填满，用玻璃 棒压实，使其表面平整光滑； b 商用白板：表面干净，平整光滑： C）自制白板与商用白板均应计量检定后使用

应采用JJG178,JJF1232中仪器的校准方法对设备进行校准

包括以下内容： 样品要充分干燥、保持粉体状态，如果有结块可进一步研磨成粉体； 样品用量应不低于20mg 样品压制：对于普通的粉末样品池，将样品充满整个样品槽，用玻璃棒压实，使其表面平整光 滑；对于特制的样品池，把样品均匀铺在样品池表面，用石英片或玻璃棒将其压实压平。

宜采用如下测试条件： 光源：氛灯与钨灯； b） 波长范围：200nm~800nm； 环境条件：温度20℃～25℃，相对湿度不大于85%； d) 扫描步长：小于1nm； 狭缝宽度：2nm~8nm； f) 样品用量：不低于20mg

GB/T3Z1312018

附录A （资料性附录） 金红石型纳米氧化钛带隙宽度值的计算

A.2纳米TiO,带隙宽度值的计算

式中： k一斜率。 由图A.3得到a点横坐标为3.37，纵坐标值为11.74，两值分别对应图A.2中a点的横坐标与切线 的斜率k值。图A.2中，已知a点的横坐标，可知其纵坐标值为2.07。将a点的坐标值以及k值代人 式（A.1)，得到C=一37.49.因此式（A.1)表达为式（A.2)

图A.2中，b点的纵坐标为0，由式（A.2)得到其横坐标=3.19，即纳米TiO2的带隙宽度 E=3.19eV 上述计算过程可参见参考文献[8]~[10]

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针对主要操作参数对分析结果的影响进行了说明，主要包括样品用量、扫描步长和狭缝宽度的 介绍。

SC/T 3306-2012 即食裙带菜GB/T371312018

图B.2纳米ZnO不同扫描步长的紫外 反射光谱与带隙值变化图