GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 更新时间:2008年02月19日 资源 GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 积分0.00 特惠 积分0 VIP全站资料免积分下载 立即下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 4326-1984 文件类型:.rar 资源大小:425.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:8431 VIP资源 GB/T 4326-1984标准规范下载简介: GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 本标准适用于在非本征半导体单晶试样中确定载流子霍尔迁移率。为获得霍尔迁移率必须测量电阻率和霍尔系数,因此本标准也分别适用于这些参数的测量。本方法仅在有限的范围内和对锗、硅和砷化镓进行了实验室测量,但该方法也可适用于其他半导体单晶材料。所述的测量技术至少适用于室温电阻率高达104Ωcm的试样。 国家*用标准 劳动安全标准 电力标准 包装标准 石油化工标准 航天工业标准 林业标准 卫生标准 水产标准 医药标准 烟草标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 4240-1993 不锈钢丝 下一篇 GB/T 4334.1-2000 不锈钢10%草酸浸蚀试验方法 相关文章