GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 更新时间:2009年08月26日 资源 GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 积分0.00 特惠 积分0 VIP全站资料免积分下载 立即下载 同类资料根据编号标题搜索 文档 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 12843-1991 文件类型:.rar 资源大小:281.0KB 标准类别:国家标准 资源ID:57317 VIP资源 GB/T 12843-1991标准规范下载简介: GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 电力标准 建筑材料标准 商检标准 机械标准 包装标准 教育标准 外经贸标准 邮政标准 测绘标准 石油天然气 冶金标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 12842-1991 膜集成电路和混和膜集成电路术语 下一篇 GB/T 12844-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种采样保持放大器的品种 相关文章