SJ/T 10785-2020 电子元器件详细规范 CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ.pdf

SJ/T 10785-2020 电子元器件详细规范 CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ.pdf
积分0.00
特惠
积分0
VIP全站资料免积分下载
立即下载
同类资料根据编号标题搜索
文档
仅供个人学习
反馈
标准编号:SJ/T 10785-2020
文件类型:.pdf
资源大小:5.1 M
标准类别:电力标准
资源ID:266098
VIP资源

SJ/T 10785-2020 标准规范下载简介:

内容预览由机器从pdf转换为word,准确率92%以上,供参考

SJ/T 10785-2020 电子元器件详细规范 CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ.pdf

SJ/T107852020

SJ/T 107852020

GB/T 29197-2012 铜包铝线S.J/T 107852020

4.12.5最后测量 外观检查 无可见损伤 电容量 △C/C≤4.12.1测量值的5% 损耗角正切(tan) tan≤0.01或为4.12.1测 量值的1.2倍(取较大者) 绝缘电阻 ≥4.2.4.2规定值的50% C4分组 ND 10 4.2.5随温度变化的特性 电容量 按4.2.5的规定 ”试验项目和性能要求的章条号引自GB/T6346.11一2015表1及本规范第1章。 检查水平(IL)选自GB/T2828.1。 本表中: 检查水平; P一周期(月数); n 一样品数; 允许的不合格品数; D一 一破坏性的; ND 一非破坏性的。 4为了用每百万分之几不合格品数(10)来检测产品出厂的质量水平,在100%检验后应进行抽样复验,抽样水平

4.2.5随温度变化的特性 电容量 按4.2.5的规定 ”试验项目和性能要求的章条号引自GB/T6346.11一2015表1及本规范第1章。 检查水平(IL)选自GB/T2828.1。 本表中: IL检查水平;

试验项目和性能要求的章条号引自 检查水平(IL)选自GB/T2828.1。 本表中:

IL一检查水平; P一周期(月数); n一样品数; 一允许的不合格品数; D一破坏性的; ND非破坏性的。 4为了用每百万分之几不合格品数(10")来检测产品出厂的质量水平,在100%检验后应进行抽样复验,抽样水平 应由制造厂决定。计算10数值时,任何一个参数失效都应判定为一个不合格项。在一个样本中,存在一个或多 只不合格项时,则该批产品应被拒收。 如果制造厂对尺寸测量设有统计过程控制(SPC)程序或其他方法以避免元件超出极限值,则该检验可由生产检 验代替。 如果出现一个不合格品,应使用新的样本重新进行该分组的全部试验,且不允许再有不合格品。在重新试验期间 可以继续放行产品。

©版权声明
相关文章