TCECS 773-2020 标准规范下载简介：
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TCECS 773-2020 建筑反射隔热饰面层隔热性能现场检测规程.pdf表 4.2.3检测点要求
4.2.4检测应按下列步骤进行
1按使用说明书正确连接仪器，并处于正常状态； 2将标准白板与定位片背面靠紧，将积分球采样孔对准定 立片的采样孔，并应在仪器规定的波长范围内进行光谱反射比的 光谱基线测量； 3将定位片背面的采样孔对准检测点，并使定位片与被测
表面靠紧； 4将测量头置于定位片的定位槽内，并在同一波长范围内 进行光谱反射比测量，测得相对于标准白板的光谱反射比曲线 4.2.5太阳光反射比应按下式计算,
QXGT 0010S-2015 云南下关沱茶（集团）股份有限公司 下关紧压茶= ZE.(a;)M;
式中： 检测点的太阳光反射比； 波长350nm～2500nm范围内的计算点； 入; 计算点i对应的波长（nm），按本规程附录A规定 选取； 计算点的数目，取96个； Poi一 波长为入；的标准白板的绝对光谱反射比测定值； Pbi一 波长为入，的被测表面相对于标准白板的光谱反射比 测定值； E（入,) 在波长入；处太阳光谱辐照度LW/（m²·nm），按 本规程附录A规定选取； △；一一计算点波长间隔（nm）。 .2.6检测数据处理应取检测区内所有检测点的算术平均值作 寸检测区太阳光反射比的结果，计算数据应精确至0.01。 2.7若一个检验批内反射隔热饰面层包含不同颜色的区域 应在相同颜色的区域内选择检测区，并应按本规程第4.2.3 条～第4.2.6条规定分别检测并计算每个相同颜色区域的太阳光 射比。整个检验批的太阳光反射比应按下式计算：
为检测区太阳光反射比的结果，计算数据应精确至0.01。
2o.s: =1 2. i=l
β;一一第i种颜色区域的太阳光反射比； S;一一第i种颜色区域的面积。 4.2.8检验批内单次检测的标准偏差若不大于0.02，则应记录 检测结果并结束检测；若大于0.02，则应增加检测区及相应的 检测点，并应按本规程第4.2.3条～第4.2.7条规定进行检测和 计算，直至检验批内单次检测的标准偏差不大于0.02，记录此 时的检测结果并结束检测
第i种颜色区域的面积
4.3.1被测表面应符合本规程第4.2.1条的规定。
4.3.1被测表面应符合本规程第4.2.1条的规定。 4.3.2辐射积分法检测设备组件及性能应符合表4.3.2的规定
表 4.3.2辐射积分法检测设备组件及性能
4.3.3检测点应符合本规程第4.2.3条的规定。
3.3检测点应符合本规程第4.2.3条的规定。 3.4检测应按下列步骤进行：
4.3.3检测点应符合本规程第4.2.3条的规定。
1 按说明书正确连接仪器并处于正常状态； 2 开启电源，预热至稳定； 3用黑腔体调零，用已知反射比的标准白板校准，每隔
30min重复调零和校准； 4将定位片背面的采样孔对准检测点，并使定位片与被测 表面靠紧； 5将测量头置于定位片的定位槽内，避免光线泄漏。在测 量头指示灯闪炼的整个周期内，保证测量头不动。当读数模块显 示值稳定时，即可读数。 4.3.5检测数据处理应取检测区内所有检测点的算术平均值作 为检测区太阳光反射比的结果，计算数据应精确至0.01。 4.3.6若一个检验批内反射隔热饰面层包含不同颜色的区域 则应在相同颜色的区域内选择检测区，按本规程第4.3.3条～第 1.3.5条规定分别检测并计算每个颜色区域的太阳光反射比，再 按本规程公式（4.2.7）计算检验批的太阳光反射比。 4.3.7检验批内单次检测的标准偏差若不大于0.02，则应记录 检测结果并结束检测；若大于0.02，则应增加检测区及相应的 检测点，并应按本规程第4.3.3条～第4.3.6条规定进行检测和 计算，直至检验批内单次检测的标准偏差不大于0.02，记录此 时的检测结果并结束检测
4.4.1 被测反射隔热饰面层表面应符合下列规定： 1 饰面层表面的坡度应小于9.5°； 2 饰面层表面应平整、无杂物；当表面有杂物时，检测时 应避开有杂物的区域，或在不影响表面状态的前提下将杂物 清除； 3饰面层表面应呈干燥状态，不得清洗； 4饰面层表面应完全暴露于阳光下，除日射强度计及支架 外，应无其他物体的影子。
4.4.2日射强度计法检测设备组件及性能应符合表4.4.2的 规定。
4.4.2日射强度计法检测设备组件及性能应符合表4.4.2的
4.4.5 检测应按下列步骤进行： 1 将支架置于没有被遮挡阳光的被测表面上，并保证支架 稳固； 2将日射强度计固定在支架臂上，并使日射强度计平行于 被测表面； 3正确连接输出装置，开启电源，预热至稳定； 4将日射强度计面朝太阳，读取太阳光的辐照度（Q）， 然后快速向下翻转日射强度计朝向被测表面，读取反射光的辐照 度（Q2）；应检查所读数据至少在10s内无变化，两个数据的读 数操作应在2min内完成； 5重复本条第4款的步骤两次。 4.4.6数据处理应符合下列规定
太阳光反射比应按下式计算
式中：Ps 检测点的太阳光反射比； Qi一一太阳光的辐照度（W/m²）； Q2一一反射光的辐照度（W/m²）。 2每个检测点3次测量的算术平均值应作为检测点的太阳 光反射比，应取检测区内所有检测点的算术平均值作为检测区太 阳光反射比的最终结果，计算数据应精确至0.01
5半球发射率检测5.1一般规定5.1.1半球发射率的检测应采用辐射计法。当被测表面导热率大于1100W/（m²：K）时，应采用标准辐射计法，否则应采用滑动辐射计法。5.1.2同类反射隔热饰面层每500m²～1000m²面积宜划分为一个检验批，不足500m²的应划分为一个检验批，每个检验批内应抽取至少3个检测区，每个检测区间隔应至少10m。5.1.3检测设备应具有抗振动、抗干扰、防尘、防潮和防紫外等功能，并应能在本规程第3.0.3条规定的环境条件下使用。辐射计检测设备性能应符合表5.1.3的规定。表5.1.3辐射计检测设备性能设备组件性能要求检测范围与精度应由可控加热器、高发射率探头元件和低发射率探头元件构成，可控加热器应能保证差热电堆式探测器温度高于试板温度或标准板温度。发辐射能探测器射率探头元件应能产生与温差成比例关系的输出电压。重复性允许偏差应为士1%半球发射率检测应与差热电堆式辐射能探测器相连，用于读数装置范围应至少涵盖处理辐射能探测器的输出信号，数显分辨率（毫伏计）0.03~0.98；检测应为0.01；毫伏计灵敏度应为0.01mV精度应为0.01应由低发射率标准板和高发射率标准板组成。低发射率标准板发射率不应大于标准板0.06，高发射率标准板发射率不应小于0.86适配器可调节探测器与被测表面的接触面积.12:
1饰面层表面应平整光滑、无杂物、无凸起；当表面有杂 物时，检测时应避开有杂物的区域，或在不影响表面状态的前提 下将杂物清除； 2饰面层表面应呈干燥状态，不得清洗； 3检测时，被测饰面层表面不应受太阳直接照射。 5.2.2检测点要求应符合表5.2.2的规定
表5.2.2检测点要求
5.2.3检测应按下列步骤进行
1检测开始前，将高发射率和低发射率标准板置于被测表 面上至少30min，使三者温度一致； 2开启电源，仪器预热至稳定； 3将探测器分别放在高、低发射率标准板上90s，通过微 调使读数装置显示的读数与标准板的标示值一致，重复此步骤直 至不再需要调整； 4将探测器放到被检测表面上，待读数稳定后即为被检测 表面的发射率。 5.2.4检测数据处理应取检测区内所有检测点的算术平均值作
5.2.5检验批内单次检测的标准偏差若不大于0.02，则
检测结果并结束检测；若大于0.02，则应增加检测区及相应的 检测点，并应按本规程第5.2.2条～第5.2.4条规定进行检测和
计算，直至检验批内单次检测的标准偏差不大于0.02，记录此时的检测结果并结束检测。5.3滑动辐射计法5.3.1被测反射隔热饰面层表面应符合下列规定：1饰面层表面应平整、无杂物，凸起高度应小于1.0mm;当表面有杂物时，检测时应避开有杂物的区域，或者在不影响表面状态的前提下将杂物清除；2饰面层表面应呈干燥状态，不得清洗；3检测时，被测饰面层表面不应受太阳直接照射。5.3.27检测点的确定应符合本规程第5.2.2条的规定。5.3.3检测应按下列步骤进行：17检测开始前，将高发射率和低发射率标准板置于被测表面上至少30min，使三者温度一致；2开启电源，仪器预热至稳定；3将安装上适配器的探测器分别放在高、低发射率标准板上90s，通过微调使读数与标准板的标示值一致，重复此步骤直至不再需要调整；4将探测器放到被检测表面上位置1（图5.3.3）约20s，位置1滑动位置220s15s滑动位置4滑动位置320s15s图5.3.3检测过程示意:14:
后将探测器贴看被测表面滑动至位置2停留约15s，再滑动 立置3停留约15s，最后滑动至位置4停留约20s，记录位置 勺读数，每个位置点的间距宜为100mm。
检测结果并结束检测；若大于0.02，则应增加检测区及相应的 检测点，并应按本规程第5.3.2条～第5.3.4条规定进行检测和 计算，直至检验批内单次检测的标准偏差不大于0.02，记录此 时的检测结果并结束检测，
6.0.1太阳光反射比和半球发射率现场检测完成后，应根据设 计文件或技术要求，对反射隔热饰面层的反射隔热性能出具现场 检测报告。对于建筑屋面，可按本规程附录B的规定计算屋面 的SRI值。 6.0.2检测报告应包括下列信息： 1工程项目名称和地址； 2被测对象描述，包括材料、面积、颜色、表面状态、污 染情况、使用年限等； 检测环境描述，包括温度、湿度、风速、大气状况等； 检测日期、时间； 检测方法； 6 检测依据的标准文件； 1 检测设备、仪器的型号等信息； 8 检验批的数量，检测区及检测点位置图； 9 太阳光反射比、半球发射率检测结果和标准偏差； 10 测点及周围环境照片，检测人员实际操作照片； 11 检测单位名称及地址； 12 报告主检人、审核人和批准人的签名。
6.0.3当设计文件或技术文件有要求时，应报告屋面
及在SRI值计算过程中所使用的风速级别以及对应的对流换热 系数。
B.0.1本方法宜用于标准日照与大气环境条件下的水平或坡度 小于9.5°的建筑屋面的阳光反射指数的计算，本方法不宜用于 太阳光反射比和半球发射率小于0.2的屋面。 B.0.2计算阳光反射指数（SRI）时，标准日照与大气环境条 件技术参数应按表B.0.2取值，
标准日照与大气环境条件技术参类
B.0.3应按本规程第4章的规定检测并计算屋面的太阳光反 射比。 B. 0. 4 应按本规程第5章的规定检测并计算屋面的半球发 射率。 B. 0. 5 阳光反射指数（SRI）应按下列公式进行计算：
1为便于在执行本规程条文时区别对待，对要求严格程度 不同的用词说明如下： 1）表示很严格，非这样做不可的： 正面词采用“必须”，反面词采用“严禁”； 2）表示严格，在正常情况下均应这样做的： 正面词采用“应”，反面词采用“不应”和“不得” 3）表示充许稍有选择，在条件许可时首先应这样做的： 正面词采用“宜”，反面词采用“不宜”； 4）表示允许有选择，在一定条件下可以这样做的，采用 “可”。 2条文中指明应按其他有关标准执行时的写法为：“应符 合…的规定”或“应按…执行”
《总辐射表》GB/T19565 《建筑施工高处作业安全技术规范》JGJ80
中国工程建设标准化协会标准
建筑反射隔热饰面层隔热性能
目次1总则(26)2术语(27)3基本规定(29)4太阳光反射比检测(30)4. 1一般规定(30)4.2光纤光谱法(30)4.3辐射积分法(31)4.4日射强度计法(32)5半球发射率检测(34)5. 1一般规定(34)5.2标准辐射计法(34)5.3滑动辐射计法(35)6检测报告(36)附录A太阳光谱辐照度.(37)附录B阳光反射指数的计算(38)
1.0.1实现建筑节能的主要举措就是在建筑围护工程中采用各 种具有显著节能效果的材料和技术。建筑反射隔热材料具有较高 的反射太阳辐射热的能力，可减少建筑物的热荷载，从而达到节 能降耗、提高室内舒适度的目的。目前，建筑反射隔热材料如反 射隔热涂料、热反射金属屋面板、热反射防水卷材等已成功应用 于建筑工程的屋面和外墙，取得了良好的节能效果。为规范建筑 围护结构中反射隔热层的节能性能检测，制定了本规程
种具有显著节能效果的材料和技术。建筑反射隔热材料具有较高 的反射太阳辐射热的能力，可减少建筑物的热荷载，从而达到节 能降耗、提高室内舒适度的目的。目前，建筑反射隔热材料如反 射隔热涂料、热反射金属屋面板、热反射防水卷材等已成功应用 于建筑工程的屋面和外墙，取得了良好的节能效果。为规范建筑 围护结构中反射隔热层的节能性能检测，制定了本规程。 1.0.2我国现行的有关标准规程中，关于反射隔热层的关键功 能性能检测与评价，多集中在实验室内进行，现场测试仅局限于 太阳光反射比这一个参数，而半球发射率、经过老化和污染的反 射隔热层以及非均质表面的反射性能的现场测试等并未涉及。实 示建筑反射隔热面层表面状态与试验室所制样品差别较大，且经 过长时间的户外使用后，其表面状况会发生很大变化，有必要建
围护结构中反射隔热层的节能性能检测，制定了本规程， 1.0.2我国现行的有关标准规程中，关于反射隔热层的关键功 能性能检测与评价，多集中在实验室内进行，现场测试仅局限于 太阳光反射比这一个参数，而半球发射率、经过老化和污染的反 时隔热层以及非均质表面的反射性能的现场测试等并未涉及。实 际建筑反射隔热面层表面状态与试验室所制样品差别较大，且经 过长时间的户外使用后，其表面状况会发生很大变化，有必要建 立相应的现场检测方法反映建筑隔热饰面层（包括反射隔热涂 层、热反射金属板、反射隔热防水卷材等）的真实情况，从而用 于反射隔热工程的节能验收以及对反射隔热性能进行科学的 评价。
1.0.2我国现行的有关标准规程中，关于反射隔热层的关键
节能施工、验收、检测标准，如《建筑节能工程施工质量验收标 准》GB50411、《建筑装饰装修工程质量验收标准》GB50210 《建筑反射隔热涂料节能检测标准》JGJ/T287等
2.0.1根据应用情况，建筑反射隔热饰面层材料有反射隔热涂 料、反射隔热金属板、反射隔热瓦、反射隔热防水卷材等。 2.0.4本术语取自美国材料试验协会标准ASTME1980Stand ardPracticeforCalculatingSolarReflectanceIndexofHorizonta andLowSlopedOpaqueSurfaces《非透明材料在水平面或低角 度倾斜情况下阳光反射指数测量标准》中的术语和定义。 根据此定义，阳光反射指数计算公式为：
苏别为材科表面、黑板与白板的表面稳 态温度。 基于光纤耦合传输原理进行光谱分析的方法测试太阳光
2.0.5基于光纤耦合传输原理进行光谱分析的方法测试 反射比。
3.0.1目前专业领域内作为建筑反射隔热材料的节能参数有太 阳光反射比和半球发射率，本规程重点就这两项参数的现场检测 方法进行规定。反射隔热涂料涂装后需完全干燥后才能进行现场 检测，其他材料施工后也应有一个养护期以保证其质量稳定， 3.0.2高层建筑墙面及屋面现场检测具有一定的危险性，检测 人员必须做好安全防护。 3.0.3为了保护检测人员安全、确保仪器的防护和检测的精度， 对现场检测环境条件提出的建议。 3.0.4本条给出了反射隔热饰面层现场检测流程，其中的现场 调查包括下列内容：反射隔热饰面层技术资料、饰面层施工工 艺、建筑节能设计文件及施工资料、委托方的具体要求、现场检 测条件等。检测方案建议包含以下内容：工程概况、检测方法、 检测数量、抽样方案、所需的仪器设备和人员、安全防护措施、 试验时间要求等，高层操作时还应包括测试点搭建脚手架、爬梯 等要求。 现场检测后需要对检测结果的标准偏差进行计算分析，当标
3.0.1目前专业领域内作为建筑反射隔热材料的节能参数有太 阳光反射比和半球发射率，本规程重点就这两项参数的现场检测 方法进行规定。反射隔热涂料涂装后需完全干燥后才能进行现场 检测，其他材料施工后也应有一个养护期以保证其质量稳定。 3.0.2高层建筑墙面及屋面现场检测具有一定的危险性，检测 人员必须做好安全防护。 3.0.3为了保护检测人员安全、确保仪器的防护和检测的精度， 对现场检测环境条件提出的建议。
3.0.4本条给出了反射隔热饰面
调查包括下列内容：反射隔热饰面层技术资料、饰面层施工工 艺、建筑节能设计文件及施工资料、委托方的具体要求、现场检 测条件等。检测方案建议包含以下内容：工程概况、检测方法、 检测数量、抽样方案、所需的仪器设备和人员、安全防护措施、 试验时间要求等，高层操作时还应包括测试点搭建脚手架、爬梯 等要求。 现场检测后需要对检测结果的标准偏差进行计算分析，当标 准偏差过大时，需要增加检测区再次进行现场检测，直至标准偏 差符合要求时出具检测报告
4.1.1光纤光谱法和辐射积分法是通过触探方式进行采
4.1.1光纤光谱法和辐射积分法是通过触探方式进行采样的检 则，检测过程简单易操作，墙面和屋面均适用。日射计法为非触 探式检测，根据其检测原理，仅适用于平屋面和坡度很小的 屋面。 4.1.2检验批面积的划分与现行国家标准《建筑装饰装修工程 质量验收标准》GB50210及现行团体标准《建筑反射隔热涂料 应用技术规程》T/CECS750保持一致。 4.1.3用于现场检测的光纤光谱仪、辐射积分仪等设备属于精 密仪器，应针对现场检测环境具备抗振动性能，仪器及组件的连 接等应牢固可靠，确保测试信号的传输不受现场环境震动、检测 中的移动等影响，对现场环境中某些电气设备产生的快速脉冲群 王扰或其他电磁王扰，故此规定检测设备应具备抗王扰能力。
测，检测过程简单易操作，墙面和屋面均适用。日射计法为 探式检测，根据其检测原理，仅适用于平屋面和坡度很 屋面。
4.1.2检验批面积的划分与现行国家标准《建筑装饰装修
质量验收标准》GB50210及现行团体标准《建筑反射隔热涂料 应用技术规程》T/CECS750保持一致。 4.1.3用于现场检测的光纤光谱仪、辐射积分仪等设备属于精 密仪器，应针对现场检测环境具备抗振动性能，仪器及组件的连 接等应牢固可靠，确保测试信号的传输不受现场环境震动、检测
量验收标准》GB50210及现行团体标准《建筑反射隔热涂 用技术规程》T/CECS750保持一致。
密仪器，应针对现场检测环境具备抗振动性能，仪器及组件的连 接等应牢固可靠，确保测试信号的传输不受现场环境震动、检测 中的移动等影响，对现场环境中某些电气设备产生的快速脉冲群 王扰或其他电磁王扰，故此规定检测设备应具备抗王扰能力
4.2.1杂物指落叶、废纸等与被测表面无关的物品，检测前应 予以清理。被测表面潮湿或者受到强烈阳光的照射，会改变其表 面的状态和温度，从而影响测量的准确性，因此应确保其干燥 避免强烈的太阳光直射，可采用遮阳伞进行防护
4.2.2采用光纤光谱法现场检测设
电源、便携式计算机等。也可以采用集成化程度较高的便携式仪 器，如将光谱仪和计算机整合为一体，积分球和光源整合为一体 的便携式仪器。
员展开手臂可以够及的位置。非均质表面由于每个检测点存在 定的差异性，因此增加检测点的数量以减少测量误差。建筑使 后反射隔热材料由于受污染等因素影响：其表面也出现程度不 的不均匀性，也要增加检测点的数量
负展开于臂可以够及的位直。非均质表面由于每个检测点存在一 定的差异性，因此增加检测点的数量以减少测量误差。建筑使用 后反射隔热材料由于受污染等因素影响，其表面也出现程度不等 的不均匀性，也要增加检测点的数量。 4.2.4采样孔与检测点之间配置定位片有两个重要作用，一是 给测量头采样准确定位，二是封闭测量头采样孔边缘因被测面凸 可不平产生的缝隙，避免测量头触接面漏光产生测量误差 4.2.5公式（4.2.5）中，n是波长350nm~2500nm范围内的 计算点数目，计算点的波长入；应以本规程附录表A中350nm~ 2494nm范围内的逐点作为反射比分析用的计算点，共96个 之所以规定具体的计算点波长，目的是避免因计算点选择的不统 而产生计算结果的差异，计算过程更为严谨规范，结果也便于 比较。βoxi为标准白板的绝对反射比，是由计量部门检定的数值 对应各计算点波长的绝对反射比值，可根据检定值按照相邻波长 对应的绝对光谱反射比，采用内插法逐个确定。bxi为在各计算 点的数值，可根据测定值按相邻波长对应的光谱反射比，采用内 插法逐个确定。
4.2.4采样孔与检测点之间配置定位片有两个重要作用
4.2.7为了提高装饰效果，有的建筑墙面被设计成由不
色构成，例如阳台外饰面、墙裙的颜色与墙面主体颜色不同，这 时就需要分别测试不同颜色区域的太阳光反射比，然后再按各颜 色区域所占的面积加权计算反射隔热饰面层总的太阳光反射比。
4.2.8标准偏差反映了单个检测结果的离散程度，当
4.3.2辐射积分法设备集成度较高，可直接通过读数模块进行 读数，也可再配备便携式电脑用于数据导出和存储。除此之外： 现场检测还可配备蓄电池电源。
4.4.3本条对检测时间进行了
1多云和薄雾天气影响检测工作，因此测试期间天气应该 是晴朗、无云的。以下准则适用于确定适宜的测量条件。阴霾 只要测试期间太阳圆面可见、阳光不迅速改变，可以确保一定的 则量精度。云：太阳周围的云的影响大于地平线上云的影响。 2太阳光人射角小于45°是ASTME1918的要求。对于水 平和低斜度的表面，时间应限制在当地时间上午9点到下午3 点，同时此日中午可以获得太阳辐照能量的70%。冬季太阳角 度比较小，检测的时间段可以选在上午10点到下午2点。
4.4.4本方法要求被测表面应足够大，以保证测点数
的要求。建筑使用后反射隔热材料由于受污染等因素影响，其表 面也出现程度不等的不均匀性，因此要增加检测点的数量。
4.4.5为确保检测结果的稳定性，需要做3次以上检测（每次 在2min内完成），并确保计算的太阳光反射比在一定的时间内 是可以重复的
1公式（4.4.6）是对太阳光反射比定义（相同波段内反射 与入射的太阳辐射通量的比值）的最直接体现， 2本方法特别适用于非均质表面。材料本身的多样性、气 医条件的多样性导致测试结果的差异性，因此为了充分反应非均 质表面的太阳光反射比，每个检测区至少选择不同位置的3个检 测点。
5.1.1标准辐射计法适用于金属基材上薄涂层的测试
质量验收标准》GB50210和现行团体标准《建筑反射隔热涂料 应用技术规程》T/CECS750保持一致。
源。适配器仅用于滑动辐射计法检测半球发射率
5.2.1被测表面潮湿或者受到强烈阳光的照射，会改变其 的状态和温度，从而影响测量的准确性，因此应确保其十熄 免强烈的太阳光直射，可采用遮阳伞进行防护。
5.2.2规定检测点间距至少
开手臂可以够及的位置。非均质表面由于每个检测点存在一定的 差异性，因此增加检测点的数量以减少测量误差。建筑使用后反 射时隔热材料由于受污染等因素影响，其表面也出现程度不等的不 均匀性，也应增加检测点的数量。
2.3为使标准板与被测表面温度一致，可采取在标准板与
QSY CQ3359-2009 数字化生产管理系统建设要求测表面之间涂抹凡士林以促进传热的方法
5.3.1滑动法可以测试有一定纹理的表面，例如真石漆、 拉毛涂料等质感涂料表面。
毛涂科等质感涂科表面。
5.3.3本条规定了滑动法测试表面半球发射率的步骤
1为使标准板与被测表面温度一致，可采取在标准板与被 则表面之间涂抹凡士林以促进传热的方法。 3适配器的使用目的是减小探测器与被测表面的接触面积， 减少被测表面的热负荷。 4如果“滑动”探测器比较困难，也可以抬起探测器快速 移动至下一个位置。每一次滑动，读数会略微增加，因为新位置 的表面温度比较低。为了获得几个读数的平均值，应在不同的位 置开始和结束。
6.0.3SRI值的计算和报告并不是必须提供的，国内外绝大多 数标准、认证评级等规定的反射隔热指标为太阳光反射比和半球 发射率，但也有例外，如美国LEED认证要求提供屋面的SRI 值，并对不同坡度屋面的最小SRI值进行了限定。国内也有将 SRI值纳入反射隔热屋面设计要求的情况出现。
本附录的数据采用现行国家标准《太阳能在地面不同接收 条件下的太阳光谱辐照度标准第1部分：大气质量1.5的法 向直接日射辐照度和半球向日射辐照度》GB/T17683.1的 数据。
B.0.1在阳光照射下，屋面材料表面稳态温度与材料自身的太 阳光反射比和热辐射率（半球发射率）有密切的相关性。在相同 条件下，低太阳光反射比表面温度高于高太阳光反射比表面温 度。辐射率（发射率）较低的材料表面温度高于辐射率（发射 率）较高的材料表面温度。本附录推荐了一种通过计算阳光反射 指数来比对在太阳辐照下不同屋面材料的表面稳态温度的方法。 B.0.2根据屋面材料表面风速的低、中、高三个级别，对流系 数分别定位5W/（m²·K）、12W/（m²·K）、30W/（m²·K），以 用于SRI的计算。 B.0.5SRI值计算公式由太阳辐射下屋面材料表面温度计算公 式、SRI值的定义公式（见本规程第2.0.4条的条文说明）推导 而成。本公式不适用于太阳光反射比小于0.2、半球发射率小于 0.2的屋面材料。
数分别定位5W/（m²·K）、12W/（m²·K）、30W/（m²·K)JC/T 479-2013 建筑生石灰，以 用于SRI的计算。 B.0.5SRI值计算公式由太阳辐射下屋面材料表面温度计算公 式、SRI值的定义公式（见本规程第2.0.4条的条文说明）推导 而成。本公式不适用于太阳光反射比小于0.2、半球发射率小于 0.2的屋面材料